法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2020-02-11
实质审查的生效 IPC(主分类):B24B37/32 申请日:20191028
实质审查的生效
2020-01-10
公开
公开
机译: 在(化学机械抛光)组合物存在下含有杂环CMP的N-化合物一种制造半导体器件的方法,包括对III-V材料(CMP)进行化学机械抛光
机译: CMP(化学机械抛光)装置的保持环,用于通过均匀地控制保持环和抛光垫以及压力分布和压力分布之间的接触面积来改善CMP过程中晶片总表面的抛光光洁度。
机译: 用于制造半导体器件的方法,该方法包括在cmp组合物存在下对iii-v材料进行化学机械抛光(cmp),该cmp组合物包含含有n杂环的化合物