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高精度红外样品材料光谱发射率测量装置及方法

摘要

本发明提出一种高精度红外样品材料光谱发射率测试装置及方法,采用光谱比对测量法,通过设计光学偶合系统和水冷可变光栏,满足各类不同尺寸样品材料发射率的测试需求,通过对相同波长点多次测量信号叠加运算的方法,实现信号选择放大,有效拟制环境背景的噪音和系统杂散光,提高了测量精度,实现了对样品材料光谱发射率的高精度测试。该方法解决了目前不同尺寸红外样品材料光谱发射率高精度测量难题,具有测量精度高、温度范围大、适合不同尺寸样品材料等优点。本发明不仅能够满足各类红外材料光谱发射率的准确测试,而且对红外目标、红外模拟器光谱发射率以及红外目标光谱辐射亮度的计量测试具有一定的指导意义。

著录项

  • 公开/公告号CN104390931A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安应用光学研究所;

    申请/专利号CN201410625740.4

  • 申请日2014-11-07

  • 分类号G01N21/3563(20140101);

  • 代理机构61204 西北工业大学专利中心;

  • 代理人陈星

  • 地址 710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号

  • 入库时间 2023-12-17 04:10:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-21

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/3563 申请公布日:20150304 申请日:20141107

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-04-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/3563 申请日:20141107

    实质审查的生效

  • 2015-03-04

    公开

    公开

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