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图形化光刻胶层的形成方法、晶圆级芯片封装方法

摘要

一种图形化光刻胶层的形成方法、晶圆级芯片封装方法,该封装方法在制作用来形成再布线的图形化光刻胶层中,先在基底上涂敷第一粘度的第一光刻胶层,所述第一粘度小于100cp,使得第一光刻胶层为低粘度光刻胶层,再在第一光刻胶层上涂敷第二粘度的第二光刻胶层,所述第二粘度大于第一粘度,然后再对第一光刻胶层和第二光刻胶层进行曝光、显影,由于低粘度光刻胶层的黏附性比高粘度光刻胶层的黏附性弱,因此,本发明中的图形化光刻胶层比现有图形化光刻胶层更容易被去除,使得位于通孔内的图形化光刻胶层不会有残留。

著录项

  • 公开/公告号CN104516194A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201310463712.2

  • 发明设计人 陈福成;

    申请日2013-09-30

  • 分类号G03F7/00(20060101);H01L21/3105(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人骆苏华

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2023-12-17 03:57:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G03F7/00 申请公布日:20150415 申请日:20130930

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G03F7/00 申请日:20130930

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    公开

    公开

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