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一种利用纳米台阶的频谱测量原子力显微镜针尖半径的方法

摘要

本发明公开了一种利用纳米台阶的频谱测量原子力显微镜针尖半径的方法,通过分析针尖半径对扫描纳米台阶所得测量结果的影响,得出了台阶的频谱与针尖半径的线性对应关系,从而作为针尖半径的评价方法。本发明具有如下优点:1、台阶结构尺寸精确,而且与针尖接触作用的几何模型简单。2、采用频谱分析可以在频域内将一些图像中的干扰信号与有用信号分离,从而单独分析有用的部分,这就降低了误差的产生,使得计算更加准确。

著录项

  • 公开/公告号CN104515872A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201410815608.X

  • 发明设计人 闫永达;薛勃;胡振江;赵学森;

    申请日2014-12-24

  • 分类号G01Q60/38;

  • 代理机构哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-12-17 03:49:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01Q60/38 申请公布日:20150415 申请日:20141224

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-05-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/38 申请日:20141224

    实质审查的生效

  • 2015-04-15

    公开

    公开

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