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具有单掩膜预定栅极沟槽和触点沟槽的高密度沟槽金属氧化物半导体场效应管

摘要

可通过单掩膜定栅极沟槽和本体触点沟槽,形成沟槽栅极金属氧化物半导体场效应管器件。在半导体衬底表面上形成一个硬掩膜。在硬掩膜上涂覆一个沟槽掩膜,预定本体触点沟槽和栅极沟槽。在半导体衬底中,按照第一预定深度,同时刻蚀本体触点沟槽和栅极沟槽。然后在硬掩膜顶部涂覆一个栅极沟槽掩膜。栅极沟槽掩膜覆盖着本体触点沟槽,并在栅极沟槽处具有比这些沟槽还宽的开口。按照第二预定深度,刻蚀栅极沟槽,而非本体触点沟槽。在栅极沟槽中填充第一导电类型材料,以便形成一个栅极。在本体触点沟槽中填充第二导电类型材料,以便形成一个本体触点。本发明可仅使用单掩膜,而不使用复杂的多隔片。

著录项

  • 公开/公告号CN101859705B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 万国半导体有限公司;

    申请/专利号CN201010113308.9

  • 申请日2010-01-26

  • 分类号H01L21/336(20060101);H01L21/28(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构上海信好专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人姜玉芳;徐雯琼

  • 地址 美国加利福尼亚桑尼维尔水星街495号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-06

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20180211 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-09-28

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160901 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-09-28

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160901 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-09-28

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2016-09-28

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160901 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-09-28

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/336 登记生效日:20160901 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利申请权、专利权的转移

  • 2016-09-28

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/336 变更前: 变更后: 申请日:20100126

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-09-05

    授权

    授权

  • 2012-09-05

    授权

    授权

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100126

    实质审查的生效

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/336 申请日:20100126

    实质审查的生效

  • 2010-10-13

    公开

    公开

  • 2010-10-13

    公开

    公开

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