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用于电容性接触传感器的评估方法及评估装置

摘要

本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估方法,所述电容性接触传感器包括能够进行电容性耦合的至少一个发射电极(SE)及至少一个接收电极(EE)或至少一个传感器电极,其中·-在所述至少一个接收电极处或在所述至少一个传感器电极处分接测量信号,所述测量信号分别表示所述至少一个发射电极与所述至少一个接收电极之间的耦合电容(C2)的时间进程及所述传感器电极的电容性负载的时间进程,·-从所述测量信号形成参考信号,及·-当所述参考信号满足至少一个检测准则时,形成至少一个检测信号。另外,本发明提供一种用于电容性接触传感器的评估装置及一种包括根据本发明的评估装置的电手持式装置,其中所述评估装置可与所述电容性接触传感器的至少一个发射电极及至少一个接收电极或至少一个传感器电极耦合且经调适以执行根据本发明的评估方法。

著录项

  • 公开/公告号CN103733519A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 微晶片科技德国第二公司;

    申请/专利号CN201280039519.X

  • 发明设计人 史蒂芬·伯格;霍尔格·斯特劳斯;

    申请日2012-06-28

  • 分类号H03K17/96;

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人沈锦华

  • 地址 德国吉尔兴

  • 入库时间 2024-02-20 00:07:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H03K17/96 申请公布日:20140416 申请日:20120628

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-08-31

    专利申请权的转移 IPC(主分类):H03K17/96 登记生效日:20160811 变更前: 变更后: 申请日:20120628

    专利申请权、专利权的转移

  • 2014-07-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03K17/96 申请日:20120628

    实质审查的生效

  • 2014-04-16

    公开

    公开

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