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发光二极管光电特性量测装置

摘要

本发明揭露一发光二极管光电特性的量测装置,包括:一容器,具有一光输入口及一光输出口;一量测模块,与容器的光输出口连接;一试片承载台,位于容器下方且可承载待测的发光二极管;及一光聚集单元,位于容器与试片承载台之间。

著录项

  • 公开/公告号CN103777127A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 晶元光电股份有限公司;

    申请/专利号CN201210402060.7

  • 申请日2012-10-19

  • 分类号G01R31/26;G01M11/02;

  • 代理机构上海波拓知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨波

  • 地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行五路5号

  • 入库时间 2024-02-19 23:41:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-03

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20140507 申请日:20121019

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-11-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20121019

    实质审查的生效

  • 2014-05-07

    公开

    公开

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