液晶预倾角量测系统与方法

摘要

本发明提供一种液晶预倾角的量测系统与方法，投射线性偏振光束至一待测样品上，并由偏振光接收模块分离通过待测样品后的穿透光形成具有垂直及水平偏振态的光束，然后再计算归一化穿透光谱强度。由量测不同入射角的偏振光束所具有的归一化穿透光谱强度，再通过数学运算以液晶物理模型拟合进而求解液晶预倾角。