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Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle

机译:液晶预倾角的测量方法和液晶预倾角的测量设备

摘要

By setting the linearly polarized light with normal incidence on the liquid crystal sample 3 and rotating the liquid crystal sample 3 on a rotation stage 7 within plane, the dependencies of the amplitude ratio as well as the optical retardation of the transmitted light on the azimuth of the liquid crystal sample, with respect to the polarization direction of the incident light, are measured. From these measured results, a liquid crystal pretilt angle is determined.
机译:通过在液晶样品 3 上设置垂直入射的线偏振光,并在平面内的旋转台 7 上旋转液晶样品 3 相对于入射光的偏振方向,测量了振幅比以及透射光在液晶样品的方位上的光学延迟的依赖性。根据这些测量结果,确定液晶预倾角。

著录项

  • 公开/公告号US6473180B2

    专利类型

  • 公开/公告日2002-10-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US20010940524

  • 发明设计人 ICHIRO HIROSAWA;

    申请日2001-08-29

  • 分类号G01J40/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:47:48

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