首页> 外国专利> Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle

Measuring method of liquid crystal pretilt angle and measuring equipment of liquid crystal pretilt angle

机译:液晶预倾角的测量方法和液晶预倾角的测量设备

摘要

A linearly polarized light is condensed by a lens 4 and set incident on a liquid crystal sample 5 with the incident angle being distributed continuously. The incident angle dependence of the polarization of the transmitted light is measured by a method of rotating an analyzer and the like, and thereby a pretilt angle of the liquid crystal sample is determined.
机译:线偏振光由透镜 4 会聚并入射到液晶样品 5 上,入射角连续分布。通过旋转检偏器等的方法来测量透射光的偏振的入射角依赖性,从而确定液晶样品的预倾角。

著录项

  • 公开/公告号US6348966B1

    专利类型

  • 公开/公告日2002-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC CORPORATION;

    申请/专利号US19980201822

  • 发明设计人 ICHIRO HIROSAWA;

    申请日1998-12-01

  • 分类号G01J40/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 00:47:34

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号