首页> 中国专利> 采用AFM纳米压印图形衬底生长定位量子点的MBE方法

采用AFM纳米压印图形衬底生长定位量子点的MBE方法

摘要

一种采用AFM纳米压印图形衬底生长定位量子点的MBE方法,包括如下步骤:步骤1:取一衬底;步骤2:在衬底上生长缓冲层;步骤3:利用带有纳米压印功能的原子力显微镜,在缓冲层上制备周期阵列的纳米孔洞;步骤4:在周期阵列的纳米孔洞和缓冲层上生长纳米缓冲层;步骤5:在纳米缓冲层上对应纳米孔洞的位置生长定位量子点;步骤6:在定位量子点和纳米缓冲层上生长盖层,完成制备。本发明具有图形精度高、机械损伤小、量子点光电学性质好的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN103594334A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-02-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201310594632.0

  • 申请日2013-11-21

  • 分类号H01L21/02;B82Y40/00;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2024-02-19 22:18:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-09-14

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/02 申请公布日:20140219 申请日:20131121

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-03-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20131121

    实质审查的生效

  • 2014-02-19

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号