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基于虚拟仪器TRIM模块和RIM模块测试装置

摘要

本发明提供了一种基于虚拟仪器TRIM模块和RIM模块测试装置,其特征在于,包括:电源传感器、电压传感器、数据采集卡,电流源、电压源以及控制处理部所形成虚拟仪器测试系统,与由TRIM模块插头和RIM模块插头、继电器开关板、时间测试电路、信号编码电路、信号处理电路所形成的测试结构相结合,能够自动和手动的诊断TRIM模块、RIM模块中继电器的弹跳时间、电阻阻值以及逻辑线路故障,然后有控制处理部对所得的测试结果进行整理,显示,保存等后续工作,进而对TRIM模块和RIM模块的故障做出评价和诊断分析,数据采集速度快,消除的人工测量的效率差并且不可靠的误差,测试精度高,重复性好,大大提高了测试效率,并提高可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN103487688A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2014-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN201310429791.5

  • 申请日2013-09-18

  • 分类号G01R31/00;

  • 代理机构上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2024-02-19 21:40:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-08

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/00 申请公布日:20140101 申请日:20130918

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2014-02-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/00 申请日:20130918

    实质审查的生效

  • 2014-01-01

    公开

    公开

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