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基于SiGe BiCMOS的宽带射频芯片静电保护电路

摘要

本发明公开了一种基于SiGe BiCMOS的宽带射频芯片静电保护电路,主要解决现有技术占用面积大及引入寄生电容大的缺点。其包括位于宽带射频输入输出端口的两个集成衬底静电放电二极管D1、D3和位于宽带射频输入输出端口的两个集成N阱静电放电二极管D2、D4。该四个静电放电二极管D1、D2、D3、D4的阴阳极掺杂区及金属接触条均采用梯型叉指结构,外围填充有多晶硅材料以进行自身隔离,且二极管D2、D4的下方设有N型埋层和N型外延层,以减小寄生效应。本发明电路具有结构简单,面积小,寄生电容小,且不增加额外工艺成本的优点,可应用于宽带射频芯片I/O口的静电防护中。

著录项

  • 公开/公告号CN103400841A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-11-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201310302691.6

  • 申请日2013-07-12

  • 分类号H01L27/088;H01L29/06;H01L27/04;H01L23/60;

  • 代理机构陕西电子工业专利中心;

  • 代理人王品华

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2024-02-19 21:05:45

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-04-13

    授权

    授权

  • 2013-12-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L27/088 申请日:20130712

    实质审查的生效

  • 2013-11-20

    公开

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