二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法

摘要

本发明公开了二代身份证指纹采集识别设备标准测试卡及检测方法,本发明创造性的实现了采用统一的标准化的检测方法对光学式和半导体式不同成像原理的平面指纹采集识别设备进行测试,本发明标准测试卡的整体外形是边长为19x13.5mm的长方形板，包括正面与反面。所述边长为19x13.5mm的长方形板内又设置了一个边长为17.93x12.75mm的长方形，所述边长为19x13.5mm的长方形板的中心为一个边长为10mm的小正方形，所述边长为10mm的小正方形再平均分成四个边长为5mm的小正方形；本发明的优点是能够将不同成像原理的光学式和半导体式指纹采集识别设备的检测方法科学规范地统一起来，使在相同检测方法下得出的技术指标更具有合理性和可比性。