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一种用于单粒子翻转的故障模拟系统及分析方法

摘要

本发明涉及一种用于大规模集成电路SRAM型FPGA中单粒子翻转的故障模拟系统及分析方法,包括上位计算机和控制板,所述控制板包括故障注入模块、故障检测模块、故障分析模块。本发明提供了一种使用灵活、成本低廉、具有模拟精度高、模拟速度快、对芯片不造成任何物理上的损伤的故障模拟系统及分析方法。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-22

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06F17/50 申请公布日:20130710 申请日:20130416

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-08-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C29/08 申请日:20130416

    实质审查的生效

  • 2013-07-10

    公开

    公开

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