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与CMOS工艺兼容的MEMS温度湿度集成传感器及其制造方法

摘要

与CMOS工艺兼容的MEMS温度湿度集成传感器及其制造方法。本发明提供一种温度湿度集成传感器,其包括基材、形成于基材上的绝缘层、形成于绝缘层上的下电极、形成于下电极上的中间湿度感知层以及形成于中间湿度感知层上的上电极,其中下电极采用由N型多晶硅/铝或者N型多晶硅/P型多晶硅形成的热电偶来测量温度。本发明的温湿度集成传感器,下电极采用Al和多晶硅形成热电偶,这是CMOS兼容工艺,可以与CMOS同时流通,制造方便。

著录项

  • 公开/公告号CN103185611A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡华润上华半导体有限公司;

    申请/专利号CN201310117126.2

  • 发明设计人 苏佳乐;

    申请日2013-04-03

  • 分类号G01D21/02;

  • 代理机构无锡互维知识产权代理有限公司;

  • 代理人王爱伟

  • 地址 214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区汉江路5号

  • 入库时间 2024-02-19 18:43:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-01-04

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01D21/02 申请公布日:20130703 申请日:20130403

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-07-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D21/02 申请日:20130403

    实质审查的生效

  • 2013-07-03

    公开

    公开

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