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图案化的碳化硅籽晶及其加工方法和应用、碳化硅晶体、外延层、半导体器件

摘要

本发明涉及碳化硅晶体生长领域,具体而言,提供了一种图案化的碳化硅籽晶及其加工方法和应用、碳化硅晶体、外延层、半导体器件。该图案化的碳化硅籽晶包括籽晶表面,所述籽晶表面包括至少两个凸起,相邻两个凸起之间的凹槽的横截面积由下向上逐渐变大。该碳化硅籽晶的表面呈特定的凹凸结构,因而采用该籽晶进行碳化硅晶体的生长时,碳化硅原子优先生长于相邻两个凸起之间的凹槽,在该凹槽内生长时,缺陷生长方向由纵向逐渐转变为横向,当碳化硅原子填满该凹槽后,碳化硅原子开始纵向生长,因此横向生长的缺陷将消失,从而使碳化硅晶体的缺陷密度得到有效降低。

著录项

  • 公开/公告号CN110620039A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 福建北电新材料科技有限公司;

    申请/专利号CN201910910409.X

  • 发明设计人 汪良;张洁;邓树军;

    申请日2019-09-25

  • 分类号

  • 代理机构北京超成律师事务所;

  • 代理人郭莲梅

  • 地址 362200 福建省泉州市晋江市陈埭镇江浦社区企业运营中心大厦

  • 入库时间 2024-02-19 15:53:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/306 申请日:20190925

    实质审查的生效

  • 2019-12-27

    公开

    公开

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