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一种高通量薄膜材料芯片的分立掩膜高精度对准系统

摘要

本发明提供了一种高通量薄膜材料芯片的分立掩膜高精度对准系统,用于解决现有技术中高通量薄膜制备系统中,掩膜与基片距离大、距离控制精度低、掩膜不可重复利用、生产效率低下、沉积膜组分不可控、膜阴影范围大的技术问题;包括:载体、基片、载体驱动装置、掩膜和定位球;实施本发明的技术方案,利用硅的各向异性加工出第一凹槽、第二凹槽,结合氮化硅定位球,实现掩膜与基片的高精度距离控制,从而将基片与掩膜的距离控制在较低范围,膜阴影范围小;设置可旋转的掩膜台以及掩膜旋转机构,系统可提供多种沉积方案,实现沉积膜组分的精准控制,提高系统的生产效率;设置多个第二凹槽,掩膜可以适用多种类型基片,降低系统成本。

著录项

  • 公开/公告号CN110607498A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-12-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201910905251.7

  • 发明设计人 吕文来;陈飞;张金仓;

    申请日2019-09-24

  • 分类号C23C14/04(20060101);

  • 代理机构31253 上海精晟知识产权代理有限公司;

  • 代理人姜杉

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2024-02-19 15:25:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):C23C14/04 申请日:20190924

    实质审查的生效

  • 2019-12-24

    公开

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