基于改进鲸鱼算法优化支持向量机的半导体良率预测方法

摘要

本发明公开了一种基于改进鲸鱼算法优化支持向量机的半导体良率预测方法，通过改进鲸鱼算法优化支持向量机中的核函数宽度因子和惩罚系数，改进了利用支持向量机对半导体良率预测过程中鲁棒性差的问题，同时避免了人为确定参数的不确定性，能够更好的适应不同场景；本发明中参数优化后的支持向量机通过挖掘芯片的测试信息，对其进行良率预测，在一定程度上减少了对成品测试的依赖，大大缩减了成本，提高了成品率。