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ADC中采样器和放大器非线性的背景校准

摘要

本公开涉及ADC中采样器和放大器非线性的背景校准。模拟电路通常是非线性的,并且非线性会损害性能。设计人员将权衡功耗以实现更好的线性度。高效且有效的校准技术可以解决非线性问题并降低整体功耗。注入模拟电路的抖动信号可用于暴露数字域中的非线性行为。为了检测非线性,应用计数方法来隔离与输入分布无关的非线性。该方法在许多方面优于其他方法并且与其他方法不同。

著录项

  • 公开/公告号CN110138385A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国亚德诺半导体公司;

    申请/专利号CN201910098128.9

  • 发明设计人 A·M·A·阿里;P·古拉蒂;

    申请日2019-01-31

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人刘倜

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2024-02-19 14:12:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M1/10 申请日:20190131

    实质审查的生效

  • 2019-08-16

    公开

    公开

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