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参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性

摘要

本公开涉及参考DAC的背景校准和ADC中的量化非线性。多步骤ADC通过为后续阶段产生数字化的残差来执行多步骤转换。为了产生残余,多步骤ADC中的级将使用前馈数模转换器(DAC)重建到级的输入信号。DAC中的非线性可直接影响多步骤ADC的整体性能。为了降低功耗和模拟电路设计的复杂性,实现了数字背景校准方案以解决非线性问题。校准方案所解决的非线性可包括参考,DAC和量化非线性。

著录项

  • 公开/公告号CN109756226A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国亚德诺半导体公司;

    申请/专利号CN201811293276.8

  • 发明设计人 A·M·A·阿里;P·古拉蒂;

    申请日2018-11-01

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人张小稳

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2024-02-19 10:24:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M1/10 申请日:20181101

    实质审查的生效

  • 2019-05-14

    公开

    公开

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