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一种阵列检测光寻址电位传感器的恒相位差闭环测量方法

摘要

本发明公开了一种阵列检测光寻址电位传感器(LAPS)的恒相位差闭环测量方法。通过跨阻放大器将LAPS的微弱光电流信号转换、放大为电压信号;采用同步检波方法取得LAPS信号与光源调制信号之间的相位差,并将相位差转换为成比例的电压信号;然后通过反馈控制电路将该电压叠加在LAPS的直流偏置电压上,使LAPS信号与光源调制信号之间保持固定的相位差;最后将总偏置电压作为LAPS的测量输出值;采用温度补偿方法,根据温度补偿数学模型对测量值进行修正,减少温度因素对测量结果的干扰。本发明所涉及的闭环测量方法能够有效提高阵列检测LAPS的测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110260905A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-09-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安邮电大学;

    申请/专利号CN201910456854.3

  • 发明设计人 陈东;

    申请日2019-05-29

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 710121 陕西省西安市长安区西长安街618号

  • 入库时间 2024-02-19 14:03:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-20

    公开

    公开

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