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一种自动校正质谱同位素分布曲线的方法

摘要

本发明涉及一种自动校正同位素分布的方法,所述曲线(棒状)质谱数据来源于色谱‑质谱联用仪器,其中包括对质量轴和同位素丰度两个因素的优化,两个因素的准确度对目标化合物分子式的推导具有决定性的意义。所述方案通过:1)利用局部最小值检测(天然)内标峰或待校峰的起止色谱区域;2)在感兴趣域各采样点的质谱中,解析目标离子的同位素结构,计算质量轴和同位素丰度的平均值;3)通过最小二乘多项式拟合建立误差校正函数,并应用于待校正离子的误差计算;4)校正值经高斯盒子转换为校正后的同位素曲线。所述方案能自动地校正不同层次MS仪器的曲线或棒状模式数据,可以选择不加入外源性内标化合物,只需单次测试,且校正结果可靠。

著录项

  • 公开/公告号CN110320297A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-10-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湘潭大学;

    申请/专利号CN201910602923.7

  • 发明设计人 贺敏;洪亮;

    申请日2019-07-04

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 411105 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘27号

  • 入库时间 2024-02-19 13:49:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-19

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N30/02 申请日:20190704

    实质审查的生效

  • 2019-10-11

    公开

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