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用于DC参数测试的垂直式超低漏电流探针卡

摘要

根据本发明的一实施例的探针卡的特征在于,包括:多个探针,用于与试验体相接触并传输电信号;探针PCB,形成有用于向所述多个探针分配并传输电信号的信号布线;第一导向板,与所述试验体相对布置,且形成有供所述多个探针的各一端插入的多个探针孔;及第二导向板,与所述第一导向板平行布置,且形成有供所述多个探针的各另一端插入的多个探针孔,其中,在所述探针PCB上的信号布线和所述多个探针的各另一端通过同轴电缆直接电连接。

著录项

  • 公开/公告号CN110114683A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-08-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEPS有限公司;

    申请/专利号CN201880005398.4

  • 发明设计人 李在馥;金大原;康贤;

    申请日2018-01-02

  • 分类号G01R1/073(20060101);G01R31/28(20060101);

  • 代理机构11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人蒋旭荣

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2024-02-19 13:13:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R1/073 申请日:20180102

    实质审查的生效

  • 2019-08-09

    公开

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