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DC - VERTICAL ULTRA-LOW LEAKAGE CURRENT PROBE CARD FOR DC PARAMETER TEST

机译:用于DC参数测试的DC垂直超低漏电流探针卡

摘要

A probe card according to an embodiment of the present invention includes a probe PCB having a plurality of probes for contact with a test body to transmit an electrical signal, signal wirings for distributing and transmitting an electrical signal to the plurality of probes, A first guide plate disposed opposite to the first guide plate and having a plurality of probe holes into which one end of each of the plurality of probes is inserted; a second guide plate disposed in parallel with the first guide plate, And a second guide plate on which a plurality of probe holes are formed, wherein the signal wires on the probe PCB and the other ends of the plurality of probes are directly electrically connected through a coaxial cable.
机译:根据本发明实施例的探针卡包括:探针PCB,其具有用于与测试体接触以传输电信号的多个探针;用于将电信号分配并传输至所述多个探针的信号布线;与第一导向板相对设置并具有多个探针孔的板,多个探针中的每一个的一端插入其中。平行于第一导向板设置的第二导向板,以及在其上形成有多个探针孔的第二导向板,其中探针PCB上的信号线和多个探针的另一端通过直接电连接。同轴电缆。

著录项

  • 公开/公告号KR101962529B1

    专利类型

  • 公开/公告日2019-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 주식회사 텝스;

    申请/专利号KR20170000706

  • 发明设计人 이재복;김대원;강현;

    申请日2017-01-03

  • 分类号G01R1/073;G01R31/28;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 11:48:51

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