首页> 中国专利> IC布局的电性能计算

IC布局的电性能计算

摘要

一种用于计算将在集成电路上创建的功能部件的电性能的系统。使用一种或多种解析度增强技术而针对光刻失真或者其他工艺失真对预期布局设计的全部或部分进行修正。修正布局的仿真布局图像被用作场解算器程序的输入,该场解算器程序就像功能部件将被形成在晶片上那样来计算所述功能部件的电性能。

著录项

  • 公开/公告号CN101427254B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 明导公司;

    申请/专利号CN200780011321.X

  • 发明设计人 任卓翔;张卫东;J·福尔波;

    申请日2007-02-12

  • 分类号

  • 代理机构北京市金杜律师事务所;

  • 代理人王茂华

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-22

    授权

    授权

  • 2009-07-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-05-06

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号