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三能级原子在多层拓扑绝缘体结构中的自发辐射计算方法

摘要

本发明提出一种三能级原子在多层拓扑绝缘体结构中的自发辐射计算方法,包括:第一步:建立多层拓扑绝缘体结构的模型;第二步:确定拓扑绝缘体的电磁特性;第三步:确定电磁波在分界面上的边界条件;第四步:利用边界条件求得多层拓扑绝缘体的传输矩阵;第五步:求得多层拓扑绝缘体结构的反射系数;第六步:求出三能级原子位于多层拓扑绝缘体结构中的自发辐射率表达式。本发明能够准确分析位于多层拓扑绝缘体结构附近及其构成的腔中的三能级原子自发辐射率和量子干涉强度,准确定位各种参数和多层拓扑绝缘体材料对自发辐射和量子干涉的影响和根本原因,进而用以调控原子自发辐射和量子干涉。

著录项

  • 公开/公告号CN110008611A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-07-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201910295167.8

  • 申请日2019-04-12

  • 分类号

  • 代理机构杭州千克知识产权代理有限公司;

  • 代理人周希良

  • 地址 310018 浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道2号大街1158号

  • 入库时间 2024-02-19 12:04:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20190412

    实质审查的生效

  • 2019-07-12

    公开

    公开

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