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具有对深源极/漏极半导体的后侧互连的集成电路设备

摘要

晶体管单元架构包括前侧和后侧结构两者。晶体管可以包括:一个或多个半导体鳍部,其具有沿着鳍部的沟道部分的侧壁设置的栅极堆叠。蚀刻该鳍部的一个或多个源极/漏极区域,以形成具有在沟道区域以下的深度的凹槽。该凹槽可以贯穿整个鳍部高度。然后将源极/漏极半导体沉积在凹槽内,从而将沟道区域耦合到深源极/漏极。处理晶体管的后侧以显露深源极/漏极半导体材料。一个或多个后侧互连金属喷镀层级可以耦合到晶体管的深源极/漏极。

著录项

  • 公开/公告号CN109906513A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201680090659.8

  • 申请日2016-12-23

  • 分类号H01L29/772(20060101);H01L29/78(20060101);H01L29/417(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人周学斌;闫小龙

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2024-02-19 11:50:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L29/772 申请日:20161223

    实质审查的生效

  • 2019-06-18

    公开

    公开

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