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一种铁电膜宏/微观结构与电学性能联合测试系统

摘要

本发明属于仪器仪表技术领域,具体为基于原子力显微镜的铁电膜宏/微观结构和电学性能联合测试系统。本发明系统包括分立设备:原子力显微镜、锁相放大器、交流信号源、直流信号源、加法电路、数据采集器、电脑;铁电膜上下表面镀有电极,构成顶电极和底电极;本发明系统可同进行测试分析内容包括:铁电膜微结构成像,宏观铁电性能测试分析,微观铁电性能测试分析,微观压电性能测试分析;本发明可用于各类铁电材料的微结构和电性能的关联性研究工作中。

著录项

  • 公开/公告号CN109884346A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 复旦大学;

    申请/专利号CN201910177839.5

  • 发明设计人 朱国栋;

    申请日2019-03-10

  • 分类号

  • 代理机构上海正旦专利代理有限公司;

  • 代理人陆飞

  • 地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号

  • 入库时间 2024-02-19 11:00:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-07-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01Q60/24 申请日:20190310

    实质审查的生效

  • 2019-06-14

    公开

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