一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法

摘要

本发明适用SD ADC与SAR ADC测试技术领域，提供了一种集成SAR ADC与SD ADC的多站点测试方法，该方法包括：Python通过串口对多个待测芯片的寄存器进行配置，并初始化SAR ADC和SD ADC；测量SD ADC时，Python通过串口发送指令给主控芯片配置不同的电压采集芯片，并分别对应采集多个待测芯片的基准电压；测试SAR‑ADC时，Python通过串口配置多个待测芯片的寄存器，并将多个待测芯片的基准电压均配置为V1；通过该测试方法能够方便、快捷、灵活的测试SAR ADC与SD ADC，且待测的芯片数量可以灵活扩展，且测量数据自动记录，分析并保存，以提高工作效率高。