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一种样品折射率的测量方法及测量装置

摘要

一种样品折射率的测量方法及测量装置,属于纳米颗粒粒度检测技术领域。其特征在于:包括如下步骤:步骤1,转动样品池(3);步骤2,将样品池(3)排空,记录入射光的落点a;步骤3,在样品池(3)内注满样品,记录入射光的落点b;步骤4,得到落点a与落点b的间距;步骤5,得到入射光在样品池(3)上射出点的偏移量;步骤6,计算得到入射光在样品池(3)内的折射角;步骤7,得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。通过本样品折射率的测量方法及测量装置,可以精确计算得到入射光在样品中的折射率,从而进一步提高了利用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时的精度。

著录项

  • 公开/公告号CN109781591A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201910074852.8

  • 申请日2019-01-25

  • 分类号G01N15/02(20060101);

  • 代理机构37223 淄博佳和专利代理事务所;

  • 代理人孙爱华

  • 地址 255035 山东省淄博市张店区万杰路98号(山东信通电子股份有限公司院内西侧)

  • 入库时间 2024-02-19 10:24:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N15/02 申请日:20190125

    实质审查的生效

  • 2019-05-21

    公开

    公开

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