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一种UV划片膜与底膜易撕效果的评估方法

摘要

本发明提供了一种UV划片膜与底膜易撕效果的评估方法,采用标准胶带作为底膜,将底膜黏贴到带有双面胶的标准钢板上,胶带胶面朝上,裁成试条,压辊后,将附着在离型膜上的UV膜与标准胶带的胶面充分贴合,做90°剥离测试,测试结果小于5N即为合格,否则判定为不合格,该评估方法,方便、简单、易操作,并且将意易私除效果合理量化,评价方法直观、有效、合理,易被接受和应用。

著录项

  • 公开/公告号CN109781617A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 威士达半导体科技(张家港)有限公司;

    申请/专利号CN201910044439.7

  • 发明设计人 崔庆珑;魏成龙;

    申请日2019-01-17

  • 分类号G01N19/04(20060101);

  • 代理机构11371 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人宋南

  • 地址 215000 江苏省苏州市张家港市保税区港澳路15号传感园大楼南侧一楼、二楼厂房

  • 入库时间 2024-02-19 10:19:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N19/04 申请日:20190117

    实质审查的生效

  • 2019-05-21

    公开

    公开

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