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一种用于蚀刻均匀性分析的测试板及方法

摘要

本发明公开了一种用于蚀刻均匀性分析的测试板及方法,所述测试板是平板,所述平板的尺寸与待测板的尺寸相同,在所述平板上短边的3/130、5/104、5/52、1/2、47/52、99/104、127/130的以上长度位置处均沿平板的长边方向设置一列共十个通孔,且每一列中的十个通孔依次位于平板长边的3/155、5/124、5/62、77/310、129/310、181/310、233/310、57/62、119/124、152/155的以上长度位置处。本发明测试板依据蚀刻时的水池效应来设计取测量点的通孔,不仅可以提高蚀刻均匀性的检测与分析效率,并大大提高了蚀刻均匀性分析结果的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN109781048A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 江门崇达电路技术有限公司;

    申请/专利号CN201910043380.X

  • 申请日2019-01-17

  • 分类号

  • 代理机构深圳市精英专利事务所;

  • 代理人冯筠

  • 地址 529000 广东省江门市高新区连海路363号

  • 入库时间 2024-02-19 10:15:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/08 申请日:20190117

    实质审查的生效

  • 2019-05-21

    公开

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