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一种阵列天线方向图的测量方法、设备、系统以及计算机可读存储介质

摘要

本发明公开了一种阵列天线方向图的测量方法,包括如下步骤:S1.获得阵列天线的阵元方向图以及阵元方向图中心的位置;S2.馈入端口激励I;S3.获得M个测量点的位置以及阵列天线在M个测量点处的电/磁场的测量数据E,所述测量数据E包含幅度和相位信息;S4.根据阵元方向图、阵元方向图中心的位置、测量点的位置以及测量数据E获得口径场激励I′;S5.根据口径场激励I′、阵元方向图、阵元方向图中心的位置以及目标位置获得阵列天线在目标位置处的方向图E′。本发明通过较少的测量数据,结合阵列天线已知的先验知识,能够快速、高效地获得阵列天线的方向图信息。

著录项

  • 公开/公告号CN109813968A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市通用测试系统有限公司;

    申请/专利号CN201711167182.1

  • 发明设计人 漆一宏;于伟;沈鹏辉;

    申请日2017-11-21

  • 分类号G01R29/10(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园A栋孵化楼101-106

  • 入库时间 2024-02-19 10:10:54

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R29/10 申请日:20171121

    实质审查的生效

  • 2019-05-28

    公开

    公开

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