首页> 中国专利> 具有交替比较器的ADC的DC偏移校准

具有交替比较器的ADC的DC偏移校准

摘要

一种基于ADC的数字输出在后台校准ADC中的交替比较器的DC偏移的系统和方法。校准逻辑使用两个计数器分别计数表示落入第一模拟范围和第二模拟范围的采样的ADC输出的出现,计数与多个采样的A/D转换并行进行。两个范围关于MSB参考电压对称,并且组合覆盖该比特的标称电压范围。基于两个计数之差与两个计数之和的比率导出DC偏移。校准逻辑可以交替地校准比较器。可以基于与其相关联的各个比特连续地校准每个比较器。

著录项

  • 公开/公告号CN109155632A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MACOM连接解决有限公司;

    申请/专利号CN201780025219.9

  • 发明设计人 Y·阿藏科;N·G·加雅拉曼;

    申请日2017-03-20

  • 分类号

  • 代理机构北京市磐华律师事务所;

  • 代理人高伟

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2024-02-19 09:53:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-09-06

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H03M1/10 申请公布日:20190104 申请日:20170320

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2019-01-04

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号