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非接触式物体位移测量装置及使用其的测量方法

摘要

本发明提供了一种非接触式物体位移测量装置及使用其的测量方法,该非接触物体位移测量装置包括:标准量块,标准量块用于提供高温环境下的标准长度,高温环境为温度值大于或等于500℃的温度环境;光学系统和相机,光学系统用于将目标物体和标准量块成像在相机的探测器上,相机用于采集目标物体和标准量块的图像并将采集到的目标物体和标准量块的图像输出至图像处理与控制单元;图像处理与控制单元,图像处理与控制单元用于根据标准量块提供的标准长度和目标物体的图像计算获取目标物体在高温环境下的形变位移量。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中在进行高温物体位移测量时标定复杂的技术问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109751955A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京振兴计量测试研究所;

    申请/专利号CN201711054716.X

  • 申请日2017-11-01

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院30号楼

  • 入库时间 2024-02-19 09:44:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20171101

    实质审查的生效

  • 2019-05-14

    公开

    公开

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