法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-22
著录事项变更 IPC(主分类):B81C1/00 变更前: 变更后: 申请日:20190124
著录事项变更
2019-06-21
实质审查的生效 IPC(主分类):B81C1/00 申请日:20190124
实质审查的生效
2019-05-28
公开
公开
机译: 一种用于生产场控元件的方法,该场控元件在垂直方向和横向方向上都具有凹入式光栅,包括场效应晶体管-以及可控硅
机译: 一种通过反应离子刻蚀在包括集成半导体电路的衬底上生产金属硅化物和多晶硅现有双层结构的方法
机译: 一种通过等离子刻蚀衬底在集成半导体电路上生产多晶硅结构至1(μm)m面积的方法,该方法包括: