首页> 中国专利> 基于绝对角度测量的双光源高精度抗干扰大工作距自准直装置与方法

基于绝对角度测量的双光源高精度抗干扰大工作距自准直装置与方法

摘要

本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域,具体涉及基于绝对角度测量的双光源高精度抗干扰大工作距自准直装置与方法;该装置由光源单元、第一偏振片、反馈成像单元、第一透射式准直镜、组合式反射镜、第二偏振分光镜、角漂移量反馈测量单元以及波前畸变反馈测量单元。该方法通过增加角漂移量反馈测量单元和波前畸变反馈测量单元,分别测量并实时补偿自准直光束受空气扰动引入的角漂移和波前畸变,减小自准直光束在复杂空气环境、长工作距离下受空气扰动的影响,提高测量与补偿精度。采用双光源的结构形式,减弱另一光源和外界环境杂散光对传感器探测的干扰,提高信噪比,提高激光自准直仪的抗干扰能力和稳定性。此外,该装置增加了水平基准测量光路,能够实现测量激光自准直仪以及被测面相对于水平基准的绝对偏航角和俯仰角大小。

著录项

  • 公开/公告号CN109631827A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201910025603.X

  • 发明设计人 朱凡;于洋;石剑;谭久彬;

    申请日2019-01-11

  • 分类号G01C1/00(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市西大直街92号

  • 入库时间 2024-02-19 09:26:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C1/00 申请日:20190111

    实质审查的生效

  • 2019-04-16

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号