首页> 中文学位 >基于光束偏转跟踪的长工作距大量程自准直微角测量方法
【6h】

基于光束偏转跟踪的长工作距大量程自准直微角测量方法

代理获取

目录

第一个书签之前

基于光束偏转跟踪的长工作距大量程自准直微角测量方法

BEAM DEFLECTION TRACKING BASEDAUTOCOLLIMATION MICRO-ANGLEMEASUREMENT METHOD WITH LONGWORKING DISTANCE AND LARGE RANGE

摘 要

Abstract

目 录

Contents

第1 章 绪 论

1.1 课题背景及研究意义

1.2 自准直技术的研究现状

1.3 微角度测量技术的研究现状

1.4 光束偏转跟踪技术的研究现状

1.5 本领域存在的重要科学问题和关键技术问题

1.6 课题主要研究内容

第2 章 基于光束偏转跟踪的长工作距大量程自准直方法与模型分析

2.1 引言

2.2 自准直中工作距对微角度测量的影响

2.3 基于光束偏转跟踪的长工作距与大量程自准直方法

2.4 自准直系统工作距离与量程的关系总结

2.5 光束偏转跟踪系统设计

2.6 本章小结

第3 章 大量程高分辨力二维微角度测量技术研究

3.1 引言

3.2 基于电容传感器的正切法微角度测量技术研究

3.3 基于激光干涉仪的正切法微角度测量技术研究

3.4 本章小结

第4 章 长工作距中空气湍流对自准直的影响量分析

4.1 引言

4.2 空气折射率结构常数及空气湍流功率谱模型

4.3 空气湍流相位屏模型

4.4 空气湍流对长工作距自准直微角度测量的影响

4.5 本章小结

第5 章 实验结果与分析

5.1 引言

5.2 基于电容传感器的二维微角度测量单元性能测试

5.3 自准直光束偏转跟踪单元性能测试

5.4 长工作距大量程自准直系统总体性能测试

5.5 本章小结

结 论

参考文献

攻读博士学位期间发表的论文及其他成果

哈尔滨工业大学学位论文原创性声明和使用权限

致 谢

个人简历

展开▼

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号