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一种SiC单晶金属杂质的均匀掺杂的方法

摘要

本发明涉及一种SiC单晶金属杂质的均匀掺杂的方法,属于晶体生长技术领域,方法包括将SiC粉料和待掺杂材料均匀混合后,利用恒温区高温常压加热形成均匀掺杂金属的多晶SiC块体,将SiC多晶块切割为小体积立方块,再与SiC粉料均匀混合,放入PVT生长用石墨坩埚中进行单晶生长,按常规单晶生长方法即获得既定掺杂浓度的均匀掺杂金属杂质的SiC,SiC多晶块中金属杂质在PVT生长中会随着SiC的分解逐步均匀释放,从而达到均匀掺杂的目的,本方法对SiC单晶设备要求低,无需改造,不引入其他杂质且重复性高。

著录项

  • 公开/公告号CN109722712A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-05-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州南砂晶圆半导体技术有限公司;

    申请/专利号CN201910186571.1

  • 申请日2019-03-12

  • 分类号C30B23/00(20060101);C30B29/36(20060101);

  • 代理机构37219 济南金迪知识产权代理有限公司;

  • 代理人王楠

  • 地址 511458 广东省广州市南沙区珠江街南江二路7号2栋2层

  • 入库时间 2024-02-19 09:04:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    授权

    授权

  • 2019-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B23/00 申请日:20190312

    实质审查的生效

  • 2019-05-07

    公开

    公开

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