一种FPGA芯片功能测试装置及方法

摘要

本发明属于FPGA芯片功能测试技术领域，特别是一种能够反映FPGA功能时序仿真结果是否在真实FPGA芯片上逻辑功能相一致的FPGA芯片功能测试装置及方法。包括上位机、PXIe机箱、高速数字I/O卡、PCB板、待测FPGA芯片，上位机与PXIe机箱连接，PXIe机箱内插有高速数字I/O卡，高速数字I/O卡通过PXIe总线进行相互通信，高速数字I/O卡与PCB板连接，其中PCB板内设有芯片封装插座，待测FPGA芯片放置在PCB板芯片插座上。上位机内设有用于设定待测芯片引脚数量和引脚属性的引脚参数设定模块；用于设定高速数字I/O卡每个通道的输入和输出电压信号的配置模块。本发明可实现分布式发送和采集信号，同时测试多个芯片，并实现能反映FPGA功能仿真结果是否在真实FPGA芯片上逻辑功能相一致。