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一种碳化硅二极管的制备方法及碳化硅二极管

摘要

本发明公开了一种碳化硅二极管的制备方法及由该制备方法制成的碳化硅二极管,该碳化硅二极管包括一碳化硅衬底(11)、一碳化硅外延层(12)、一图形化的场板介质层(16b)、一图形化的肖特基接触电极(17b)和一欧姆接触电极层(18);碳化硅外延层(12)设置于碳化硅衬底(11)的正面;在碳化硅外延层(12)内且沿着碳化硅外延层(12)的上表面设置有图形化的离子注入区(15);碳化硅外延层(12)的上表面设置有图形化的场板介质层(16b),且碳化硅外延层(12)的上表面未图形化的场板介质层(16b)覆盖的区域设置有图形化的肖特基接触电极(17b);图形化的场板介质层(16b)的上表面的部分区域被图形化的肖特基接触电极(17b)覆盖,其余区域裸露;欧姆接触电极层(18)设置于碳化硅衬底(11)的背面。

著录项

  • 公开/公告号CN109509706A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 重庆伟特森电子科技有限公司;

    申请/专利号CN201811636764.4

  • 发明设计人 何钧;郑柳;

    申请日2018-12-29

  • 分类号

  • 代理机构北京志霖律师事务所;

  • 代理人张文祎

  • 地址 400714 重庆市北碚区云汉大道117号附237号

  • 入库时间 2024-02-19 08:20:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/329 申请日:20181229

    实质审查的生效

  • 2019-03-22

    公开

    公开

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