公开/公告号CN1088274C
专利类型发明授权
公开/公告日2002-07-24
原文格式PDF
申请/专利权人 住友电气工业株式会社;
申请/专利号CN96121713.8
申请日1996-09-25
分类号H01S5/10;G01M11/00;H04B10/08;
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;
代理人蒋世迅
地址 日本大阪
入库时间 2022-08-23 08:56:00
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2015-11-11
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01S 5/10 授权公告日:20020724 终止日期:20140925 申请日:19960925
专利权的终止
2002-07-24
授权
授权
1998-10-07
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1998-02-04
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1998-02-04
公开
公开
机译: 光学时域反射测量方法和光学时域反射测量装置
机译: 光学时域反射测量方法和光学时域反射测量装置
机译: 使用时域反射光谱仪和包括测量线的透射部分的边坡行为测量装置