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一种单裂纹最先起裂位置及扩展速率的测试方法

摘要

一种单裂纹最先起裂位置及扩展速率的测试方法。其技术方案是:单裂纹测试装置监测和记录待测试样(2)裂纹扩展过程;根据高速摄影机(7)记录的裂纹扩展监测仪(6)中6个指示灯(19)的熄灭顺序,依次绘制出与其相连的微敏电阻贴片(3)断裂位置,其中,先绘制的微敏电阻贴片(3)断裂位置为裂纹最先起裂位置;再测量相邻两个微敏电阻贴片(3)断裂处的距离L,用秒表(14)记录的电压表(13)的示数变化时的时刻t,记相邻两个断开的微敏电阻贴片(3)时间间隔Δt,则相邻两个断开微敏电阻贴片间裂纹扩展速率v=L/Δt,平均速率v为待测试样(2)单裂纹扩展速率。本发明数据采集量小、裂纹最先起裂位置判定准确和测试的裂纹扩展速率与实际接近。

著录项

  • 公开/公告号CN109556958A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉科技大学;

    申请/专利号CN201811495816.0

  • 申请日2018-12-07

  • 分类号G01N3/08(20060101);G01N3/06(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人张火春

  • 地址 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号

  • 入库时间 2024-02-19 07:49:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/08 申请日:20181207

    实质审查的生效

  • 2019-04-02

    公开

    公开

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