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一种CMOS电路与超导SFQ电路的单片集成方法

摘要

本发明涉及一种CMOS电路与超导SFQ电路的单片集成方法,其包括:步骤S1,进行CMOS集成电路流片,并沉积第一SiO2钝化层;步骤S2,对所述第一SiO2钝化层进行抛光;步骤S3,进行超导SFQ集成电路流片;步骤S4,制作用于将CMOS集成电路与超导SFQ集成电路互连的接触孔;步骤S5,将所述CMOS集成电路与超导SFQ集成电路互连;步骤S6,在所述步骤S5中所述CMOS集成电路与超导SFQ集成电路互连的部位制作焊盘;步骤S7,对所述第五晶圆进行划片封装。本发明实现CMOS集成电路工艺与超导SFQ集成电路工艺之间的无缝拼接,提高了成品芯片的综合性能,同时也节约了液氦低温环境下复杂的高频互联导致的高昂成本,降低了衬底成本和封装成本。

著录项

  • 公开/公告号CN109390283A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201811067650.2

  • 申请日2018-09-13

  • 分类号H01L21/82(20060101);H01L21/822(20060101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪;杨希

  • 地址 200050 上海市长宁区长宁路865号

  • 入库时间 2024-02-19 06:57:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/82 申请日:20180913

    实质审查的生效

  • 2019-02-26

    公开

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