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一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法

摘要

本发明公开了一种GaN基低阶表面光栅DFB激光器的制备方法,包括步骤:GaN基激光器外延片上沉积SiO2掩膜;使用纳米压印技术在基片表面制备均匀的布拉格光栅,光刻技术制作条形图样,形成脊型与光栅的复合结构;刻蚀GaN,经条形光刻胶与光栅状SiO2复合结构掩膜刻蚀外延片,形成具有脊型的表面复合光栅结构;制备激光器芯片上下电极结构,得到GaN基DFB半导体激光器。本发明将光栅制备与工艺后期所需的脊型图样同时刻蚀,分别通过纳米压印模板与光刻版图设计组合,能针对不同波长、不同阶光栅、不同尺寸GaN基DFB激光器进行设计与制备,能大幅降低GaN基DFB半导体激光器成本,有效提高产品的均匀性。

著录项

  • 公开/公告号CN109462144A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201811330731.7

  • 申请日2018-11-09

  • 分类号H01S5/34(20060101);H01S5/12(20060101);

  • 代理机构51211 成都天嘉专利事务所(普通合伙);

  • 代理人蒋斯琪

  • 地址 621999 四川省绵阳市游仙区绵山路64号

  • 入库时间 2024-02-19 06:53:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01S5/34 申请日:20181109

    实质审查的生效

  • 2019-03-12

    公开

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