首页> 中国专利> X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法

X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法

摘要

X射线荧光光谱法测定锶永磁铁氧体成分含量的方法,包括以下步骤:(1)制备标准样片;(2)设置测试条件、测定条件;(3)建立标样曲线;(4)试样成分测定。本发明采用X射线荧光粉末压片法对锶永磁铁氧体中所含成分进行测定和检测,测定精度能够达到电感耦合等离子体原子发射光谱法测定水平,所建立的标样曲线可长期使用,测量试样检测周期缩短到10min以内,本方法能够同时快速准确测定出锶永磁铁氧体中多种成分含量,且操作简单、精确度高、检测周期短、检测成本低、环境污染小。

著录项

  • 公开/公告号CN109324074A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖南航天磁电有限责任公司;

    申请/专利号CN201811279041.3

  • 发明设计人 邓兴民;王玉明;郑亮;刘超;

    申请日2018-10-30

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构43205 长沙星耀专利事务所(普通合伙);

  • 代理人宁星耀;宁冈

  • 地址 410200 湖南省长沙市望城区金星北路1106号

  • 入库时间 2024-02-19 06:49:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20181030

    实质审查的生效

  • 2019-02-12

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号