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An instrumental electrode model for solving electrical impedance tomography forward problems

机译:解决电阻抗层析成像正向问题的仪器电极模型

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摘要

An instrumental electrode model (IEM) capable of describing the performance of electrical impedance tomography (EIT) systems in the MHz frequency range has been proposed. Compared with the commonly used Complete Electrode Model (CEM), which assumes ideal front-end interfaces, the proposed model considers the effects of non-ideal components in the front-end circuits. This introduces an extra boundary condition in the forward model and offers a more accurate modelling for EIT systems. We have demonstrated its performance using simple geometry structures and compared the results with the CEM and full Maxwell methods. The IEM can provide a significantly more accurate approximation than the CEM in the MHz frequency range, where the full Maxwell methods are favoured over the quasi-static approximation. The improved electrode model will facilitate the future characterization and front-end design of real-world EIT systems.
机译:已经提出了一种能够描述兆赫兹频率范围内的电阻抗断层成像(EIT)系统性能的仪器电极模型(IEM)。与假定理想的前端接口的常用完整电极模型(CEM)相比,该模型考虑了前端电路中非理想元件的影响。这在正向模型中引入了额外的边界条件,并为EIT系统提供了更准确的模型。我们已经使用简单的几何结构展示了其性能,并将结果与​​CEM和完整的Maxwell方法进行了比较。在MHz频率范围内,IEM可以提供比CEM更为精确的逼近,在这种情况下,完全Maxwell方法优于准静态逼近。改进的电极模型将有助于未来EIT系统的表征和前端设计。

著录项

  • 作者

    Zhang Weida; Li David;

  • 作者单位
  • 年度 2014
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  • 正文语种
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