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Redundancy allocation in finite-length nested codes for nonvolatile memories

机译:非易失性存储器有限长度嵌套代码中的冗余分配

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摘要

In this paper, the duality of erasures and defects will be investigated bycomparing the binary erasure channel (BEC) and the binary defect channel (BDC).The duality holds for channel capacities, capacity achieving schemes, minimumdistances, and upper bounds on the probability of failure to retrieve theoriginal message. Also, the binary defect and erasure channel (BDEC) will beintroduced by combining the properties of the BEC and the BDC. It will be shownthat the capacity of the BDEC can be achieved by the coding scheme thatcombines the encoding for the defects and the decoding for the erasures. Thiscoding scheme for the BDEC has two separate redundancy parts for correctingerasures and masking defects. Thus, we will investigate the problem ofredundancy allocation between these two parts.
机译:本文将通过比较二进制擦除通道(BEC)和二进制缺陷通道(BDC)来研究擦除和缺陷的对偶性。对偶性对通道容量,容量实现方案,最小距离和上界概率的上限保持不变。无法检索原始消息。此外,将结合BEC和BDC的属性来引入二进制缺陷和擦除通道(BDEC)。将表明,可以通过将针对缺陷的编码和针对擦除的解码相结合的编码方案来实现BDEC的容量。 BDEC的此编码方案具有两个单独的冗余部分,用于校正擦除和掩盖缺陷。因此,我们将研究这两个部分之间的冗余分配问题。

著录项

  • 作者单位
  • 年度 2018
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"english","id":9}
  • 中图分类

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