CADMIUM TELLURIDES; ZINC; GRAIN SIZE; CRYSTAL GROWTH; BRIDGMAN METHOD; SPECTROSCOPY; DEFECTS; PIXELS; INGOTS; INFRARED IMAGERY; INCLUSIONS; HIGH PRESSURE; FABRICATION; DEGRADATION;
机译:CdZnTe探测器中的双边界支配电场分布
机译:CdZnTe共面网格探测器的光谱性能测量
机译:Hgl_2与CdZnTe脆性集电极检测器的光谱性能比较
机译:双界对Cdznte探测器光谱性能的影响
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:在高X射线通量下工作的红外LED增强光谱CdZnTe检测器
机译:孪晶边界对CdZnTe探测器光谱性能的影响
机译:双边界对CdZnTe探测器光谱性能的影响